دیکشنری تخصصی ایرانیان

atomic force microscopy

ویکی پدیا

میکروسکوپ نیروی اتمی

میکروسکوپ نیروی اتمی* یا میکروسکوپ نیرویی روبشی (به انگلیسی: SFM:Scanning Force microscope) در سال ۱۹۸۶ توسط کوئِیْت، بنیگ و گربر* اختراع شد. مانند تمام میکروسکوپ‌های پراب پویشی* دیگر، میکروسکوپ نیروی اتمی از یک پراب (probe) تیز که بر روی سطح نمونهٔ تحت بررسی حرکت می‌کند، استفاده می‌کند.

تحویل تدریجی

سفارش شما به صورت تدریجی و در حین انجام ترجمه در چند قسمت برای شما ارسال می شود.

ارتباط مستقیم با مترجم

می توانید از طریق وب سایت برای مترجم پیام بفرسید و نکات خود را به ایشان اعلام کنید.

پرداخت اقساطی هزینه ترجمه

برای کتب و سفارشات حجیم می توانید هزینه را در چند قسمت پرداخت کرده و به همان میزان قسمتی از ترجمه را دریافت نمایید.

ضمانت کیفی ترجمه

ترجمه های انجام شده توسط ترجمه تخصصی ایرانیان تا 20 روز گارانتی دارند.